粒子計數器
ZK-CLJ-E型塵埃粒子計數器
ZK-CLJ-E型塵埃粒子計數器的技術指標均滿足國家計量總局頒布的JJF1190-2008檢定規程的要求,整機功能采用美國微電腦控制處理技術及先進的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵,準保數據精度達到要求。
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